荷兰埃因霍温的Malvern Panalytical公司推出了新的Morphologi®系列自动静态成像系统，用于颗粒表征。据说Morphologi 4和Morphologi 4 ID可以提供快速，自动化的特定组件测量颗粒大小，形状和化学成分的工具。根据Malvern的说法，与以前的迭代相比，新系列可以显着提高测量速度，图像清晰度和材料范围。
这些工具针对的是分析环境，需要更深入地了解过程和/或样品，例如在金属粉末，药物和电池材料的开发和加工过程中。Morphologi 4适用于表征尺寸范围从小于1微米到1毫米或更高的颗粒。与其前身相比，它可以节省大约25%的测量时间，同时提供更简单，更直观的方法开发和更高的粒子定义。
Malvern的新工具的一个关键特性是其自动分割/阈值算法，名为Sharp Edge。据说通过使用18万像素摄像头提高灵敏度和在成像过程中封闭样品，可以更容易地检测和定义颗粒。据说这些开发可以精确测量光敏和低对比度样品，并为所有类型的样品提供增强的形状参数灵敏度。
在形态学4-ID使得可用的形态学点定向拉曼光谱(MDRS ®)，整合形态学4的拉曼光谱的静态成像能力。提供比以前型号更快的光谱采集时间 - 报告的时间减少高达80% - 它还允许根据样品定制采集条件。
据说这种增强的控制与扩展的光谱范围相结合，可以最大化在混合物中可以识别和/或区分的材料范围。该仪器是完全自动化的，其设计允许具有有限光谱经验的粒子表征科学家和更有经验的光谱学家深入了解其颗粒样品。
“在许多工业应用中，仅基于尺寸的规格已不再适用，”Malvern Panalytical分析成像副产品经理Cathryn Langley表示。“例如，金属粉末和电极材料的流动和填充性质受颗粒形状和尺寸的控制。这意味着必须控制两个参数以优化性能，例如成品注塑成型部件的性能，或电池的功率和放电特性。新的Morphologi系统使得更快，更容易地获得准确的和特定于组件的粒度和形状数据，从而更深入地了解这些产品，以及如何优化和控制其日常生产。